服務(wù)熱線
0769-28680919
153-2293-3971
1 概述
機(jī)器視覺(jué)鏡頭透鏡由于制造精度以及組裝工藝的偏差會(huì)引入畸變,導(dǎo)致原始圖像的失真,即圖像畸變。
在前一篇文章《機(jī)器視覺(jué)模型——投影矩陣》中描述了機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)成像模型,在這個(gè)模型里包含了相機(jī)內(nèi)參(與像元尺寸、焦距、像素中心有關(guān))以及相機(jī)外參(與相機(jī)在世界坐標(biāo)系的位姿有關(guān)),這個(gè)模型是一個(gè)理想模型,或者說(shuō)線性模型,沒(méi)有考慮到鏡頭透鏡產(chǎn)生的畸變所帶來(lái)的影響。
結(jié)合上文成像模型,可以把畸變理解成像點(diǎn)和物點(diǎn)之間的光線是彎曲的,如下圖所示。
圖中本來(lái)應(yīng)該共線的三個(gè)點(diǎn)O、P、Q,現(xiàn)在由于透鏡的某種偏差原因而不共線了,Pcrt被成像在了P點(diǎn),很明顯,此時(shí)的關(guān)系不再是前文討論的矩陣關(guān)系了,也就是說(shuō),在畸變存在的條件下,用前文的矩陣公式計(jì)算出來(lái)的結(jié)果是不正確的。
所以,在用這個(gè)視覺(jué)模型矩陣公式前,需要先把產(chǎn)生的畸變消除掉,與前文同樣原理,如果透鏡畸變能用一個(gè)數(shù)學(xué)模型或者數(shù)學(xué)公式來(lái)表達(dá),我們就可以很方便地消除畸變,我們把這個(gè)模型稱為“畸變模型”。
2 透鏡的畸變
透鏡的畸變主要包括:徑向畸變、切向畸變、薄透鏡畸變等等,但最顯著的是徑向畸變和切向畸變,所以我們這個(gè)模型里只考慮這兩種畸變。同時(shí),圖像的畸變是兩種畸變的組合,因此把整個(gè)畸變分解為徑向畸變分量和切向畸變分量。
2.1 徑向畸變
徑向畸變:就是沿著透鏡半徑方向分布的畸變,如我們所熟知的魚(yú)眼鏡頭產(chǎn)生的畸變、枕形畸變、桶形畸變等。
下圖為徑向畸變的分布,一般越遠(yuǎn)離中心越嚴(yán)重。
2.2 切向畸變
切向畸變:是由于透鏡本身與相機(jī)傳感器平面(像平面)或圖像平面不平行而產(chǎn)生的,這種情況多是由于透鏡被粘貼到鏡頭模組上的安裝偏差導(dǎo)致,如下圖所示。
隨著相機(jī)制造工藝的大大提升,這種情況很少出現(xiàn)了,所以很多時(shí)候已經(jīng)可以不考慮切向畸變。
下圖為切向畸變的分布
3 機(jī)器視覺(jué)畸變模型
綜上,可以得到機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)透鏡畸變模型如下
對(duì)于一個(gè)給定的鏡頭成像系統(tǒng),這5個(gè)畸變參數(shù)怎么獲得?這就涉及到“相機(jī)標(biāo)定”,即需要根據(jù)一系列已知的若干對(duì)原成像點(diǎn)與畸變成像點(diǎn)的坐標(biāo)值,帶入以上公式來(lái)解出,具體的限于篇幅這里不詳細(xì)討論。
————————————————
版權(quán)聲明:本文為CSDN博主「寒韓Glory」的原創(chuàng)文章,遵循CC 4.0 BY-SA版權(quán)協(xié)議,轉(zhuǎn)載請(qǐng)附上原文出處鏈接及本聲明。
原文鏈接:https://blog.csdn.net/hangl_ciom/article/details/106252235
CCD(Charge-Coupled Device)機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)是現(xiàn)代工業(yè)自動(dòng)化的核心技術(shù)之一,廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)、尺寸測(cè)量、定位引導(dǎo)等領(lǐng)域。以下是對(duì)其圖像處理與自動(dòng)化檢測(cè)流程的深度解析:
康耐德智能變壓器視覺(jué)定位抓取系統(tǒng)是一個(gè)高度專業(yè)化的工業(yè)自動(dòng)化解決方案,專門(mén)針對(duì)變壓器制造、裝配或檢測(cè)過(guò)程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。它結(jié)合了機(jī)器視覺(jué)、精密機(jī)械手控制、人工智能(AI)算法等技術(shù),實(shí)現(xiàn)對(duì)變壓器(尤其是線圈、鐵芯、殼體等部件)的高精度定位、識(shí)別,提供定位數(shù)據(jù)到機(jī)械手實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化抓取/搬運(yùn)/放置。
手指(如內(nèi)存條、SD卡、U盤(pán)等存儲(chǔ)設(shè)備的導(dǎo)電接點(diǎn))的表面質(zhì)量直接影響產(chǎn)品性能和壽命,其刮傷、臟污等缺陷的精準(zhǔn)檢測(cè)是半導(dǎo)體及電子制造業(yè)的關(guān)鍵挑戰(zhàn)。以下結(jié)合光學(xué)檢測(cè)原理、系統(tǒng)方案及行業(yè)實(shí)踐,為您梳理機(jī)器視覺(jué)在此領(lǐng)域的全流程解決方案:
CCD機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)?與其他常見(jiàn)視覺(jué)技術(shù)(如CMOS、3D視覺(jué)、深度學(xué)習(xí)、結(jié)構(gòu)光、TOF等)在工業(yè)檢測(cè)上的優(yōu)劣勢(shì)
Copyright ? 2022 東莞康耐德智能控制有限公司版權(quán)所有.機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng) 粵ICP備2022020204號(hào)-1 聯(lián)系我們 | 網(wǎng)站地圖